原子力拉曼聯(lián)用系統(tǒng)—XploRA Nano

XploRA Nano是一款高度集成原子力拉曼系統(tǒng)。它不僅提供各種優(yōu)秀性能，而且使用便捷，能快速得到可靠的結果。

產品特點：
全自動操作，數分鐘內即可開始測試
適合拉曼紅光或近紅外激發(fā)（AFM反饋激光為1300nm）
側向及頂部耦聯(lián)，均可使用高NA值100倍物鏡以優(yōu)化信號
同區(qū)域成像
針尖增強拉曼光譜TERS
TERS快速成像
同一軟件操作

結合納米成像和化學分析

單層、雙層和三層石墨烯的共點AFM和拉曼成像

AFM和其他SPM技術可提供分子級別分辨率下的形貌、力學、熱能、電磁場和近場光學特性。
共焦拉曼光譜和成像可提供納米材料在亞微米空間分辨率下的詳細化學信息。
同步測量的*平臺，有助于您獲得可靠且位置高度重合的圖像。
結合高性能和易用性，HORIBA將會根據您所選擇的SPM制造商提供一個可靠、全功能的解決方案
針尖增強拉曼光譜(TERS)的光學、機械和軟件都是經過優(yōu)化設計的，同時有HORIBA在拉曼光譜幾十年的經驗做技術支持，您可以自信地使用這一技術。

一個工具多種可能：AFM-拉曼有助于您提高效率

快速找到納米對象
由于納米材料具有特殊的化學屬性，拉曼峰信號較強，因此在光學顯微鏡下不可見的納米材料可以通過超快速拉曼成像進行搜索和定位。在找到樣品后，我們可以對感興趣的位置進行形貌、機械、電學和熱能分析。

交叉驗證您的數據
拉曼光譜可以證實材料的某些特性，例如前面研究的石墨烯，AFM形貌的對比度較差而難以確定層厚，拉曼則可以從另外一個角度去獲得相同的信息，此外拉曼還提供更多有關結構和缺陷的信息，此信息只有具備原子分辨率的AFM才能提供。

獲得感興趣納米結構的化學信息
在表征納米結構時，有時僅獲得物理性質是不夠的。高分辨的拉曼共焦成像可提供詳細的化學成分信息，這是其他SPM傳感器無法實現(xiàn)的。

探索TERS（針尖增強拉曼散射）領域
TERS（或納米拉曼）可以綜合兩種技術之優(yōu)勢：可獲得空間分辨率低至2nm（一般低至10nm）的化學特異性拉曼光譜成像。該技術可用于表征從納米管到DNA等各種樣品。